Сегодня компании Agilent Technologies Inc. и NXP Semiconductors объявили о том, что они продемонстрируют в реальных условиях работу нелинейного векторного анализатора цепей Nonlinear Vector Network Analyzer (NVNA), отмеченного наградами решения компании Agilent. При помощи NVNA на базе анализаторов цепей Agilent серии PNA-X будут получены характеристики транзистора NXP LDMOS высокой мощности, созданного специально для 2,45-ГГц приложений диапазона ISM (Industrial, Scientific, Medicine).

Система на базе NVNA проведет испытания мощного 250-Вт СВЧ-прибора компании NXP при различных значениях входного (source-pull) и выходного импеданса (load-pull) в частотном диапазоне от 2400 до 2500 МГц. Демонстрация пройдет в рамках мероприятия 2011 European Microwave Week (стенд G301), 11-13 октября в Манчестере (выставочный центр Manchester Central).

Измерительная система позволяет получить нелинейные характеристики на основной частоте и гармониках, а также предоставляет широкие возможности для моделирования на основе X-параметров. В сочетании с пассивными тюнерами она позволяет производить измерения в диапазоне от 10 МГц до 67 ГГц.

Во время демонстрации в качестве тестируемого прибора будет использован транзистор BLF2425M7L250P компании NXP. Этот транзистор седьмого поколения на базе технологии Si-LDMOS создан специально для 2,45-ГГц приложений диапазона ISM. Он имеет пиковые уровни мощности, превышающие 250 Вт, коэффициент усиления более 16 дБ и эффективность стока выше 50%. Как и другие мощные СВЧ устройства NXP, BLF2425M7L250P отличается высокой надежностью, эта характеристика имеет чрезвычайно важное значение для ISM-приложений из-за жестких СВЧ-нагрузок.

«Решение NVNA позволяет проанализировать поведение нашего транзистора при возбуждении большими сигналами в реалистичных условиях согласования входных и выходных нагрузок, – говорит Марк Мёрфи (Mark Murphy), директор по маркетингу, подразделение мощной СВЧ продукции компании NXP Semiconductors. – Благодаря этому мы получаем важные показатели качества, позволяющие провести всесторонний анализ прибора – кривые постоянной выходной мощности, кривые постоянной эффективности (КПД суммирования мощности) и динамические линии нагрузки для разных значений нагрузки. Эти данные помогают нам значительно сократить сроки поставки СВЧ-компонентов и имитационных моделей приборов, что в свою очередь позволяет нашим заказчикам ускорить вывод их решений на рынок».

«Мы рады предоставить NXP передовые средства измерений Agilent NVNA, – заявил Грег Петерс (Gregg Peters), вице-президент подразделения тестирования компонентов, компания Agilent. – Решение NVNA устраняет проблемы, связанные с измерением характеристик за пределами стандартных импедансов 50 Ом для СВЧ устройств с высоким и даже очень высоким уровнем мощности, присущим продукции NXP. Требовательный современный мощный транзистор, используемый в этой демонстрации, позволяет нам в полной мере раскрыть возможности решения NVNA».

Предстоящая демонстрация системы Agilent с использованием транзистора NXP BLF2425M7L250P станет итогом сотрудничества компаний в рамках программы Eureka/CATRENE CA101 PANAMA. Работы Agilent и NXP выполнены при поддержке национальных финансовых агентств Фландрии (IWT) и Нидерландов.